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    文档标题:第5章 图形化视窗操作系统
    文档作者:h
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    文档创建者:Microsoft? Office Word 2007
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    修订:Microsoft? Office Word 2007
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    ? TAP
    Test Access Port(测试访问端口)的缩写,芯片内部一个通用的端口,通过 TAP 可以
    访问芯片提供的所有数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR),对整个 TAP 的控制通过 TAP
    控制器(TAP Controller)完成的。
    ? 边界扫描
    英文叫 Boundary Scan,边界扫描的基本思想在靠近芯片的输入输出管脚(PIN)上设置
    一个移位寄存器单元,也就是边界扫描寄存器(Boundary-Scan Register)。当芯片处于调试状态
    时,边界扫描寄存器可以将芯片和外部输入输出管脚隔离开来,通过边界扫描寄存器单元,可
    以实现对芯片外部输入输出管脚的观察和控制。对于芯片的输出管脚可以通过与之相连的边界
    扫描寄存器单元把信号(数据)加载到该引脚中去,对于芯片的输入管脚,也可以通过与之相
    连的边界扫描寄存器“捕获”该管脚上的输出信号。在正常的运行状态下,边界扫描寄存器对
    芯片来说透明的,所以正常的运行不会受到任何影响,这样,边界扫描寄存器提供了一种便
    捷的途径用于观测和控制所需调试的芯片。另外,芯片管脚上的边界扫描(移位)寄存器单元
    可以相互连接起来,使芯片的周围形成一个边界扫描链(Boundary-Scan Chain),边界扫描链
    可以串行地输入和输出,通过相应的时钟信号和控制信号,就可以方便地观察和控制处在调试
    状态下的芯片。
    10.1.2 JTAG 接口信号
    标准的 JTAG 接口定义了以下一些信号管脚:
    ? TMS:测试模式选择信号,输入,IEEE 1149.1 标准强制要求。

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