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    文档标题:第5章 图形化视窗操作系统
    文档作者:h
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    文档创建者:Microsoft? Office Word 2007
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    修订:Microsoft? Office Word 2007
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    第 10 章 自制简易 JTAG 下载烧写工具 ∣ 125
    ? TCK:测试时钟信号,输入,IEEE 1149.1 标准强制要求。
    ? TDI:测试数据输入信号,输入,IEEE 1149.1 标准强制要求。
    ? TDO:测试数据输出信号,输出,IEEE 1149.1 标准强制要求。
    ? TRST:内部 TAP 控制器复位信号,输入,IEEE 1149.1 标准不强制要求,因为通过 TMS
    也可以对 TAP Controller 进行复位。
    ? STCK:时钟返回信号,IEEE 1149.1 标准不强制要求。
    ? DBGRQ:目标板上工作状态的控制信号,IEEE 1149.1 标准不强制要求。
    10.1.3 TAP 控制器的状态机
    TAP 控制器有 16 个同步状态,控制器的下一个状态 TMS 信号决定,TMS 信号在 TCK 的
    上升沿被采样生效。
    图 10-1 列出了 TAP 控制器的 16 个同步状态转换机制。
    图 10-1 TAP(Test Access Port)控制器状态机
    126 ∣ 嵌入式系统 Linux 内核开发实战指南(ARM 平台)
    ? Test-Logic-Reset 测试逻辑复位状态
    处于这种状态下,测试逻辑被禁止以允许芯片正常操作,读 IDCODE 寄存器将禁止测试
    逻辑。
    无论 TAP 控制器处于何种状态,只要将 TMS 信号在 5 个连续的 TCK 信号的上升沿保持
    高电平,TAP 就将进入 Test-Logic-Reset 状态,如果 TMS 信号一直为高电平,那么 TAP 将保持
    在 Test-Logic-Reset 状态,另外 TRST 信号也可以强迫 TAP 进入 Test-Logic-Reset 状态。
    处于 Test-Logic-Reset 状态的 TAP,如果下一个 TCK 的上升沿时 TMS 信号处于低电平,
    那么 TAP 将被切换到 Run-Test-Idle 状态。

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