• 透射电镜样品制备 > 纳米结构铁电膜的制备和物性及微结构表征

  • 纳米结构铁电膜的制备和物性及微结构表征

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    利用聚焦离子束（FIB）方法（FEI, 200TEMFIB 系统）制备透射电镜的剖面样品. 具体过程如下：首先在样品表面选择合适的区域， 然后在该处沉积2 μm 厚的 Pt 保护层. 在Pt...

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