4ch100kS/s 加速度测定モジュールWE7235(Help Ver. 1.0-3.01)
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SlotX / Trig
下図の操作パネルは[More Option]をクリックしたときのものです. デフォルトでは, [Trig Type], [Trig Level], [AAF], [Filter], [Connection Test]の各设定ボックスは表示されません. この操作パネルでは,测定条件とトリガ条件の一部を设定します.
トリガ条件 の设定など
测定ON/OFFの选択 加速度センサへの供给电流ON/OFF 入力カップリングの选択 测定レンジ単位の选択 测定レンジ/ゲインの选択 加速度センサの感度の设定 入力フィルタの设定 トリガタイプの选択
トリガレベル の设定
测定スタート/ ストップ 操作パネルの 拡大/缩小
测定周期の设定 アクイジション方法の选択
メモリ分割数の设定 加速度センサの 接続状态テスト レコード长の设定 アクイジション回数(使用 メモリブロック数)の设定
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SlotX / Trig
この操作パネルでは,トリガ条件,タイムベースなどを设定します.
加速度测定の トリガソースの选択 条件の设定など トリガコンビネーションの选択
プリトリガの设定 トリガホールドオフの设定
タイムベースの选択 测定チャネル数の选択 オーバーラップアクイジション 许可设定 测定スタート/ストップ
测定周期の设定 アクイジション方法の选択
メモリ分割数の设定 レコード长の设定 アクイジション回数(使用 メモリブロック数)の设定
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加速度センサへの供给电流の ON/OFF [Bias]
加速度测定时に, [Bias]チェックボックスをチェックしたチャネルだけ,加速度センサへ 4mAの电流を供给します. [Bias]チェックボックスをチェックするのは, 加速度センサの接 続后にしてください.
入力カップリング [Coupling]
入力信号のどの成分を取り込むかを选択します. AC:入力信号の AC 成分だけを取り込みます. DC:入力信号の DC 成分と AC 成分のすべてを取り込みます. 加速度测定时では, [AC] のみが设定可能です.
测定単位 [Unit]
测定対象の単位を设定します. ·加速度测定时 m/S2(m/s2) ·电圧测定时 V
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测定レンジ / ゲイン [Range/Gain]
测定可能な入力信号は,加速度と通常の电圧の 2 种类です. それぞれの测定レンジ / ゲインは次のとおりです. ·加速度测定(Gain)
设定 ×1 ×2 ×5 × 10 × 20 × 50 × 100 备考 电圧测定の± 5V レンジに対応 电圧测定の± 2.5V レンジに対応 电圧测定の± 1V レンジに対応 电圧测定の± 500mV レンジに対応 电圧测定の± 250mV レンジに対応 电圧测定の± 100mV レンジに対応 电圧测定の± 50mV レンジに対応
·电圧测定(Range)
设定 50mV 100mV 250mV 500mV 1V 2.5V 5V 10V 25V 50V 测定可能范囲(确度保证范囲) ± 50mV ± 100mV ± 250mV ± 500mV ± 1V ± 2.5V ± 5V ± 10V ± 25V ± 50V
加速度センサの感度 [Sensitivity]
使用する加速度センサの感度値を入力します. [More Option]ボタンをクリックし,详细设定画面を表示した场合には,测定単位を表示 しません.
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入力フィルタ [Filter]
ローパスフィルタとアンチエリアジングフィルタの2种类があり, 入力信号から高周波ノイズ を除去できます.ローパスフィルタは,40Hz,100Hz,400Hz,1kHz,4kHz,10kHz,40kHz, OFFから选択します. アンチエリアジングフィルタは, [AAF]チェックボックスをチェックした 后,20Hz,40Hz,80Hz,200Hz,400Hz,800Hz,2kHz,4kHz,8kHz,20kHz,40kHz,OFF から选択します.
アクイジション方法の选択 [Acquisition Mode]
测定データの取り込み方法を,次の 4 つの中から选択します.
● Triggered:トリガモード
[Start]ボタンをクリックすると, 设定したトリガ条件に従ってアクイジションメモリに测 定データを取り込み, 设定したレコード长だけ取り込むとストップします. [Repeat]チェッ クボックスが表示されているときにチェックすると, もう一度[Start]ボタンをクリックす るまで,同じ动作を缲り返します. [Repeat]チェックボックスが表示される条件は,加速 度测定モジュールのユーザーズマニュアルをご覧ください.
● Free Run:フリーランモード
[Start]ボタンをクリックすると, すぐにアクイジションメモリに测定データを取り込み 始めます.もう一度[Start]ボタンをクリックすると,ストップします.
● Gate(Level) ゲート(レベル)モード :
设定したトリガ条件を満たしている间(ゲート期间)だけ,测定データを取り込みます. ゲート期间が终了する前に, 指定レコード长だけ测定データを取り込まれたときは, そ の时点で取り込みはストップします. この动作を指定アクイジション回数だけ缲り返し ます. 指定アクイジション回数に达する前に, ストップ操作を行うと取り込み动作は直 ちにストップします.
● Gate(Edge) ゲート(エッジ)モード :
设定したトリガ条件が成立したら, 测定データの取り込みを开始します. その后, 一度 トリガ条件が不成立になったのち,再びトリガ条件が成立がする度にメモリを区切り, 新たなメモリブロックに测定データを取り込むことを指定アクイジション回数だけ缲り 返します. 指定アクイジション回数に达する前に, ストップ操作を行うと取り込み动作 は直ちにストップします.
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测定スタート / ストップ [Start]
[Start]ボタンのクリックで测定がスタートします.测定スタート后は,前项の说明のよう に,设定したアクイジション方法に従って测定を行います.デフォルトでは,测定をス タートすると波形モニタが表示されますが, [Start]ボタンの右横にある波形モニタON/OFF ボタン をクリックし OFF にすると,测定をスタートしても波形モニタが表示されなく なります.
测定周期の设定 [Sampling Interval]
トリガモードまたはゲートモードでアクイジションを行うときの设定可能范囲は, 「10s 10s」 (1s ステップ)です. フリーランモードのときは,设定范囲が「1ms 10s」 (1s ステップ)になります.
メモリ分割数の设定 [Memory Partition]
トリガモードのときは, アクイジションメモリを复数ブロックに分割し, トリガがかかる たびに顺次各メモリブロックに测定データを取り込むことができます.分割数は,1/2/4/ 8/16/32/64/128/256分割の中から选択できます. メモリ分割时, 指定アクイジション回数 に达する前に测定をストップしたときは, データ取り込み途中のメモリブロックのデータ は无効になります.
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レコード长の设定 [Record Length]
[Record Length]入力ボックスに数値を入力します.トリガモードの场合の设定可能范囲 は,测定チャネル数が 1 のとき「2 4M/ メモリ分割数」点,测定チャネル数が 2 のとき 「2 2M/ メモリ分割数」点,测定チャネル数が 3 または 4 のとき「2 1M/ メモリ分割数」 点です.トリガモードのときに「0」に设定すると, 「最大レコード长 / メモリ分割数」を 设定します. ゲート(レベル)モードの场合は, 「2最大レコード长」 です. ゲート(レベル)モードのとき に「0」に设定すると, 「最大レコード长」をレコード长に设定します.この场合,トリガ 条件の成立 / 不成立によってメモリが区切られていきます.区切られてできるメモリブ ロックの最大数は,256 です. なお,设定可能な最小レコード长には, 「设定レコード长×测定周期」が 5ms 未満になら ないような设定制限があります. タイムベースに内部クロックを使用しているときは, こ の制限が働き, 设定可能な最小値より小さい値に设定しようとしたときは, 设定可能最小 値に设定されます.外部クロックを使用しているときには,その制限が働かず,指定の値 に设定されますが, 「设定レコード长×测定周期」が 5ms 未満になると,正しく测定でき なくなる可能性があります.
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アクイジション回数の设定 [No. of Acquisitions]
トリガモードのとき, またはゲートモードのときは, アクイジションを行う回数を设定で きます. 设定范囲は,1 32,768 回です.トリガモードの场合,メモリ分割数より少なく设定した ときは, 使用するメモリブロック数を设定することになります. メモリ分割数より多く设 定したときは, 设定数に达するまで, もしくは设定したレコード长分だけ测定データを取 り込みます. ゲートモードでは, 设定したレコード长を 1 ブロックとして测定データを取 り込みます.设定レコード长が「最大レコード长 /256 」以下でアクイジション回数の设 定が 256 回以下のときは,取り込んだ测定データのすべてが保存されますが,アクイジ ション回数の设定を 256 回を超えて设定し 257 回以上取り込むと,最初に取り込んだ测 定データからオーバーライトされていきます. 设定レコード长を 「最大レコード长 /256 」 (最大レコード长/设定レコード长)を超えた回数の测定データを を超えて设定したときは, 取り込むとオーバーライトされます. この设定に関し,次のような动作制限があります. ·トリガモードの场合, 「アクイジション回数>メモリ分割数」のときは,最后に测定 データを取り込んだメモリブロックから「メモリ分割数 1」ブロックさかのぼった ブロックの测定データしか保存されません.また,メモリ分割数の设定が「1」のと きは,アクイジション回数は「1」しか设定できません. · 「アクイジション回数×レコード长×测定チャネル数 *」が「4M」点以下のときは,ア クイジション回数が 256 回を超えると,最后に取り込んだメモリブロックから 255 ブ ロックさかのぼったブロックの测定データしか保存されません.また, 「アクイジショ ン回数×レコード长×测定チャネル数 *」が「4M」点を超えるときは,最后に取り込 んだメモリブロックから「4M/(レコード长×测定チャネル数) 1 ブロック」の测定 データが保存されます.(* 测定チャネル数が「3」のときは「4」とみなします) ·ゲートモードの场合, 「指定レコード长≥最大レコード长 /2」のときは,1 回しか设定 できません.
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测定チャネル数の选択 [CH Mode]
测定チャネル数を制限することで,最大レコード长を変えることができます.4 チャネル (制限なし),2 チャネル,1 チャネルの设定があります.この设定により,最大レコード长 が 4CH:1M ワード,2CH:2M ワード,1CH:4M ワードになります.
タイムベースの选択 [Time Base]
モジュール内部のクロックをもとに设定した测定周期で入力信号をサンプリングするか, 计测ステーションのタイムベース信号[CMNCLK]でサンプリングするかを选択できます. Internal :モジュール内部のクロック BUSCLK :计测ステーションのタイムベース信号(CMNCLK)を使用
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下记の设定は, 操作パネルの[More Option]ボタンをクリックしたときだけ表示されます.
トリガタイプの选択 [Trig Type]
各チャネルごとに, 次の中から选択します. ゲート(レベル)モードでは, [High], [Low], [Off] のみ选択可能です.トリガ対象にしないときは, [Off]を选択します. Rise :立ち上がり(エッジトリガ) Fall :立ち下がり(エッジトリガ) Both:立ち上がり / 立ち下がりの両方(エッジトリガ) High :ハイレベル(ステートトリガ) Low :ローレベル(ステートトリガ)
トリガレベルの设定 [Trig Level]
测定対象によって操作が异なります. 加速度测定时には, ±フルスケールに対して%で设 定(+ 100% 100%)します. 电圧测定时には, 电圧レベルで设定します. 设定可能范囲 は,± 50mV 测定レンジで 0.1mV,± 100mV/ ± 250mV/ ± 500mV 测定レンジで 1mV,± 1V/ ± 2.5V/ ± 5V 测定レンジで 10mV,± 10V/ ± 25V/ ± 50V 测定レンジで 100mV です.
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トリガソースの选択 [Source]
トリガをかけるための信号を次のどちらかから选択します. Internal :入力信号(连结した 4ch 100kS/s 加速度测定モジュールの入力信号も含む) BUSTRG :计测ステーションのバストリガ信号(BUSTRG1/BUSTRG2)
トリガコンビネーションの选択 [Combination]
各チャネルの入力信号で设定したトリガ条件のどれか 1つが成立したときに, トリガがか かるようにするときは, [OR],各チャネルの入力信号で设定したトリガ条件がすべて成立 したときに,トリガがかかるようにするときは, [AND]を选択します.
プリトリガの设定 [Pretrigger]
トリガ点以前の测定データをアクイジションメモリに取り込むことができます. トリガ点 の何点前から取り込むかを「0 设定レコード长 2」で设定します.
トリガホールドオフ [Hold Off]/オーバーラップアクイジションの设定
[Hold Off]入力ボックスには,ホールドオフ期间のサンプル数を入力します. 出荷时の设定では, 测定データをアクイジションメモリに取り込み终わるまでは次のトリ ガの検出动作を行わない(オーバーラップアクイジション不许可)ように设定されているた め, ホールドオフ期间は, 「设定レコード长4,194,304」 (データ点数)の范囲で设定できま す. [Overlapped Acquisition]チェックボックスをチェックし,オーバーラップアクイジ ションを许可设定にすると, 4,194,304」の范囲で设定可能になります. 「2 トリガホールドオフをレコード长の1/255以下に设定し测定を行うと, 测定がストップす ることがあります.このときは,レコード长の 1/255 より大きな値に设定してください.
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性能 1,2,3,4,5,6/ 一般 1,2
4 非绝縁不平衡入力 BNC 加速度测定,电圧测定 加速度测定时:AC のみ 电圧测定时:DC および AC A/D 分解能 16 ビット相当(符号を含む) 入力インピーダンス 约 1M 许容信号源抵抗 100 以下 周波数特性(フィルタ OFF 时) DC 结合时:DC 40kHz( 1.5dBTypical 値 1 ) AC 结合时:0.1Hz 40kHz( 1.5dBTypical 値 1 ) 入力フィルタ ロー·パス·フィルタ 特性 :4 次バターワース( 24dB/oct) カットオフ周波数 :4 0 H z / 1 0 0 H z / 4 0 0 H z / 1 k H z / 4 k H z / 10kHz/40kHz( 3dB Typical 値 1 ) アンチエリアジングフィルタ 特性 :8 次カウア カットオフ周波数 :20Hz/40Hz/80Hz/200Hz/400Hz/ 800Hz/2kHz/4kHz/8kHz/20kHz/ 40kHz 入力チャネル数 入力形式 コネクタ形式 测定モード 入力结合
1 Typical 値は代表的または平均的な値です.保证するものではありません.
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性能 1,2,3,4,5,6 / 一般 1,2
通过域特性 :20Hz 20kHz カットオフ周波数の 5 100% にて± 1dB(Typical 値 1 ) 40kHz カットオフ周波数の 5 50% にて± 1dB,40kHz にて 3dB(Typical 値 1 ) :20Hz カットオフ周波数の 2.1 倍以上にて 50dB(Typical 値 1 ) 40Hz 40kHz カットオフ周波数の 2.1 倍以上にて 80dB(Typical 値 1 )
减衰特性
1 Typical 値は代表的または平均的な値です.保证するものではありません.
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性能 1,2,3,4,5,6 / 一般 1,2
加速度测定 适応加速度センサ:アンプ内蔵型 センサ供给电流:OFF/4mA ± 10% センサ电源电圧:OFF/ 约 21VDC 感度设定:加速度センサの感度を操作画面上(または WE コ ントロール API(别売,形名:707741))で入力 测定范囲:加速度センサの设定感度に対応して测定范囲を自 动设定 アンプゲイン / 确度(フィルタ OFF,1kHz 入力时,基准动作 条件において) :
ゲイン ×1 ×2 ×5 × 10 × 20 × 50 × 100 确度 温度系数(5 18℃,28 40℃にて) ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.01% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.01% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.01% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.02% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.02% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.03% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.05% of Full Scale 1 )/℃
1 Full Scale 値は测定レンジの 0 +フルスケールの値.
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性能 1,2,3,4,5,6 / 一般 1,2
电圧测定 测定レンジ /DC 确度(基准动作条件において) :
测定レンジ ± 50mV ± 100mV ± 250mV ± 500mV ± 1V ± 2.5V ± 5V ± 10V ± 25V ± 50V DC 确度 ±(0.15% of rdg + 0.5mV) ±(0.15% of rdg + 0.5mV) ±(0.15% of rdg + 0.5mV) ±(0.05% of rdg + 0.5mV) ±(0.05% of rdg + 0.7mV) ±(0.05% of rdg + 1.8mV) ±(0.05% of rdg + 3.5mV) ±(0.05% of rdg + 7mV) ±(0.05% of rdg + 18mV) ±(0.05% of rdg + 35mV) 温度系数(518℃,2840℃にて) ±(90ppm + 20V)/℃ ±(90ppm + 25V)/℃ ±(90ppm + 40V)/℃ ±(80ppm + 40V)/℃ ±(80ppm + 50V)/℃ ±(80ppm + 100V)/℃ ±(80ppm + 200V)/℃ ±(95ppm + 500V)/℃ ±(95ppm + 1mV)/℃ ±(95ppm + 2mV)/℃
测定レンジ /AC 确度(フィルタ OFF,1kHz 入力时,基准动作 条件において) :
测定レンジ ± 50mV ± 100mV ± 250mV ± 500mV ± 1V ± 2.5V ± 5V ± 10V ± 25V ± 50V AC 确度 ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.5% of Full Scale 1 ) ±(0.5% of Full Scale 1 ) 温度系数(518℃, 2840℃にて) ±(0.05% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.03% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.02% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.02% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.01% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.01% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.01% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.01% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.01% of Full Scale 1 )/℃ ±(0.01% of Full Scale 1 )/℃
1 Full Scale 値は测定レンジの 0 +フルスケールの値.
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トラブル
性能 1,2,3,4,5,6 / 一般 1,2
アクイジション方法 アクイジションメモリの メモリ长 メモリ分割 最大レコード长 タイムベースソース トリガソース トリガ,フリーラン,ゲート(レベル),ゲート(エッジ) 4M ワード トリガモード选択时のみ分割可能 1/2/4/8/16/32/64/128/256 分割から选択 1M ワード /CH(3CH/4CH 测定时),2M ワード /CH(2CH 测定 时),4M ワード /CH(1CH 测定时) モジュール内部のクロック,计测ステーション(WE バス上) のタイムベース信号(CMNCLK) 入力信号(チャネル间のAND/ORが可能), 计测ステーション のバストリガ信号(BUSTRG1/BUSTRG2),FFT 用タイム ベース(WE コントロール API(别売,形名:707741)でのみ选 択可能) 入力信号から検出したトリガを出力可能
バストリガ(BUSTRG1/ BUSTRG2)信号出力ソース
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トラブル
性能 1,2,3,4,5,6 / 一般 1,2
トリガレベル 设定分解能 加速度测定时 フルスケール値の 1%(设定范囲:+ 100% 100%) 电圧测定时
测定レンジ ± 50mV ± 100mV ± 250mV ± 500mV ± 1V ± 2.5V ± 5V ± 10V ± 25V ± 50V 设定分解能 0.1mV 1mV 1mV 1mV 10mV 10mV 10mV 100mV 100mV 100mV
トリガタイプ プリトリガ量 センサ接続テスト机能
ヒステリシス幅 : (レンジ上限レンジ下限)の 3%(Typical 値1) 设定确度 : (レンジ上限レンジ下限)の 3%(Typical 値1) エッジトリガ, ステートトリガ, コンビネーショントリガ(入 力信号の AND/OR) 0 (レコード长 2)の范囲で设定可能 センサの开放 / 短络のチェック可能(加速度センサ接続时のみ)
1 Typical 値は代表的または平均的な値です.保证するものではありません.
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仕様
トラブル
性能 1,2,3,4,5,6 / 一般 1,2
安全规格 CSA C22.2 No.1010.1 および EN61010-1 适合,JIS C10101 准拠 ·过电圧カテゴリ I および II*1 ·汚染度 2*2 *1 过电圧カテゴリは,过渡的な过电圧を定义する数値であ り,インパルス耐电圧の规定を含んでいます. Iは,过电圧制御が用いられている回路から给电される电気 机器に适用されます. IIは, 配电盘等の固定设备から给电される电気机器に适用 されます. *2 汚染度とは,耐电圧または表面抵抗率を低下させる固体, 液体,気体の付着の程度に関するものです. 汚染度 1 は , 密闭された空间(汚染が无いか, 乾燥した非导 电性汚染のみ)に适用されます. 汚染度 2 は,通常の室内雰囲気(非导电性汚染のみ)に适用 されます. エミッション 适合规格:EN55011 Group 1 Class A 本制品はクラス A(工业环境用)の制品です.家庭环境にお いては, 无线妨害を生ずることがあり, その场合には使用者 が适切な対策を讲ずることが必要となることがあります. イミュニティ 适合规格:EN61326工业环境 最大ケーブル长:30m
EMC 规格
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トラブル
性能 1,2,3,4,5,6 / 一般 1,2
基准动作条件 周囲温度:23℃± 5℃ 周囲湿度:50 ± 10%RH 电源电圧 / 周波数の误差:定格の 1% 以内 ウォームアップ时间経过后 30 分以上 ± 60V(DC + AC peak) 计测ステーションの动作环境に准じる 保存温度范囲: 20℃ 60℃ 保存湿度范囲:20% 80%RH (结露なきこと) 12VA (100V/50Hz 时の Typical 値 1 ) 约 0.8kg 突起部含まず,约 33(W)×约 243(H)×约 232(D)mm 1 ユーザーズマニュアル 1 册
ウォームアップ时间 最大许容入力电圧 动作环境 保存环境 消费电力 质量 外形寸法 専有スロット数 付属品
1 Typical 値は代表的または平均的な値です.保证するものではありません.
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トラブル
トラブル対処
1/2
サービスが必要なとき, または下记の対処を行っても正常に动作しないときは, 横河エン ジニアリングサービス(株)まで修理をお申しつけください. 内容 モジュールが动作しない. 考えられる原因 / 対処方法 モジュールアイコンがステーションウインドウに表示されているかどうか确认してくだ さい. 表示されていない场合, モジュールがステーションに正しく実装されているかど うか确认してください. また, 违うスロットにモジュールを実装し, 动作しないかどう か确认してください. 违うスロットで动作するときは, 计测ステーションの故障と思わ れます. 正しく実装されているのに动作しないときは, コネクタの不良, ICの故障などが原因と 考えられます. いずれの场合も,横河エンジニアリングサービス(株)での修理が必要です. 内容 测定データが収集できない. 考えられる原因 / 対処方法 各入力ケーブルが BNC 端子に正しく接続されているかどうか确认してください. 内容 波形モニタが表示されない. 考えられる原因 / 対処方法 操作パネルの[Start]ボタンの右横にある波形モニタ ON/OFF ボタンが OFF になってい ないかどうか确认してください.
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トラブル
トラブル対処
2/2
内容 入力信号にノイズが乗る. 考えられる原因 / 対処方法 信号线が AC 电源线の近くに配线されているときは,AC 电源线から信号线を远ざけて ください.また,信号线の近くにノイズ源があるときも远ざけてください. シールド付きの信号线を使用していないときは, シールド付き信号线に代えてください. 入力信号の周波数が分かっているときは, 入力フィルタの设定により, 入力信号の周波 数成分以上の周波数帯域をカットしてください. 内容 测定値がおかしい. 考えられる原因 / 対処方法 使用周囲温度·湿度が许容范囲内かどうか确认してください. 30分间のウォームアップ时间が経过していないときは, ウォームアップ时间経过后に测 定してください. 内容 トリガがかからない. 考えられる原因 / 対処方法 トリガ操作パネルでトリガ条件の设定が适切かどうか确认してください. バストリガ信号でトリガをかけるときは, ステーションウインドウの[ステーション]-[ト リガ设定]で表示されるトリガソース / タイムベースソース设定ダイアログボックスで, 设定が正しいかどうか确认してください.
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仕様
トラブル
索引 (A - N / O -)
A
AAF 5 Acquisition Mode 5 AND 11
G
Gain 4 Gate(Edge) 5 Gate(Level) 5
B
Bias 3 Both 10 BUSCLK 9 BUSTRG 11
H
High 10 Hold Off 11
I
Internal (Source) 11 Internal (Time Base) 9
C
CH Mode 9 Combination 11 Coupling 3
L
Low 10
M
Memory Partition 6 More Option 1, 10
F
Fall 10 Filter 5 Free Run 5
N
No. of Acquisitions 8
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仕様
トラブル
索引 (A - N / O -)
O
OR 11 Overlapped Acquisition 11
T
Time Base 9 Trig 2 Trig Level 10 Pretrigger 11 Trig Type 10 Triggered 5 Range 4 Record Length 7 Repeat 5 Rise 10
P R U
Unit 3
S
Sampling Interval 6 Sensitivity 4 Source 11 Start 6