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可测试性设计与测试技术
下载该文档 文档格式:PDF 更新时间:2011-10-05 下载次数:0 点击次数:5
引 言 随着集成电路制造工艺的进步,芯片上晶体管 的数量快速增长,到! "#" 年芯片上的晶体管可达到 百亿数量级 $ 然而,每 #! 个月芯片制造能力提高约 %&' ,设计能力却只能提高! #' [ # ] ,导致芯片制造 能力与设计能力的差距越来越大 $ 原有 ...
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