半导体特性分析系统

Semiconductor Characterization System

型号： 4200-SCS，2410，2430

购入时间： 2008年5月????????????????????????

价格：446760

制造厂商：美国吉时利仪器公司

安置地点：电机楼400室

所在单位： 上海大学微电子中心

所在地址：延长路149号

联系人： 沈伟星

联系电话：56331323-200

仪器简介：

4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。

2400系列数字源表系列是专为那些要求紧密结合激励源和测量功能，要求精密电压源并同时进行电流与电压测量的测试应用而设计的。所有源表均由一个精密的、低噪声、高稳定的带回读功能的直流电源和一个低噪声、高重复性、高输入阻抗的5 1/2位多功能表组成，形成了紧凑的单通道直流参数测试仪。其功能相当于电压源、电流源、电压表、电流表和电阻表的综合体。

主要技术指标：

4200-SCS：电压测量范围1uV～200V，最小分辨率≤1uV

????????? 电流测量范围1fA～100mA，最小分辨率≤1fA

2410:? 最大电压源输出为1100V，设定最小分辨率≤5uV，

电压测量范围1uV～1100V，电压测量最小分辨率≤1uV

下一页