文档预览： 5.压棒是否压力平均分布于待测板上，以免压力不平均造成接触不良。 6.测试时探针是否 下压约2/3左右，探针下压过度，会造成探针损坏，下压不足，会造成接触不良之顾虑。 ... 点击下载

文档预览： 理想的配方是外观可接受的(光亮的、稀薄的和无粘性的)、腐蚀与电迁移良性的、和 足够薄以致于不影响ICT(in-circuit test)针床的测试探针。残留很低的锡膏助焊剂( ... 点击下载

文档预览： 011110土壤养分测试仪. 010102扫描电镜. 010410拉曼光谱仪 ... 010103电子探针. 010411圆二色光谱仪. 010801光学显微镜. 011012流式细胞仪. 011112根系分析仪. 010104 电子能谱仪 ..... 080299其他. 090311内窥镜. 110101高性能射线DR/ICT在线检测装置 ... 点击下载

文档预览： 当由于不能使用在线测试仪(ICT, in-circuit tester)的简单诊断，产品必须由设计 .... 最 好的探针方案提供学习的能力(learn capability)以及BOM测试，它在测试过程中 ... 点击下载

文档预览： 当时的裸板测试系统结构组成上相对简单，即包括有电缆接口、定制夹具及其探针、 电流电压信号源及测量仪表，并已开始应用数据驱动测试手段，需要手工逐行 ... 了 在线测试（ICT:In-Circuit Test）这样一类的针对电路组装板的自动检测技术和设备。 ... 点击下载

文档预览： (2)作为测试支撑导通孔，在设计布局时，需充分考虑不同直径的探针，进行自动在线 测试时的最小间距。 .... SMT的可测性设计主要是针对目前ICT装备情况。将后期 ... 点击下载

文档预览： 世界第一款具有直进直出构造的探针，具有超精密的接触精度以及极低，极安定的 接触电阻，使测试的经济效益大大提高。 当工程师们对IDI ICT 探针进行. 性能测试的 ... 点击下载

文档预览： 由于Indium8.9的探针可测性高，减少了. ICT测试中的误报。 合金. 铟泰公司制造氧化 物含量低的球状锡粉，它使用各种无铅. 合金，有各种熔点的产品。4号和3号焊锡粉 ... 点击下载

文档预览： 软性,不粘探针残留物，易于ICT 测试. ? 适应密间距印刷,印刷速度可达150mm/s. ? 长 时间曝露时间和粘着寿命,减少浪费. ? 助焊剂类型: ROL0 符合ANSI/J-STD-004 ... 点击下载

文档预览： 臺北探針實業有限公司_PCB測試探針,I.C.T.測試探針... 臺北探針實業有限公司本公司 成立於1989年.自成立以來... 現在的位置: 大中華黃頁貿易網> 臺北探針實業有限公司> ... 点击下载